X-Ray Diffraction (XRD)

X-Ray Diffraction (XRD) adalah metode yang secara umum digunakan untuk melihat posisi suatu atom dalam molekul atau padatan. Prinsip utama dari XRD ini adalah interaksi antara sinar X dengan elektron dalam materi. Saat sinar X ditembakkan ke materi, sinar tersebut akan dipantulkan ke beberapa arah oleh awan elektron yang ada dalam atom. Setiap kisi kristal akan memberikan arah pantulan yang berbeda. Semakin seragam suatu kristal, maka arah pantulannya akan semakin seragam pula. Panjang gelombang sinar X yang digunakan dalam XRD adalah antara 0,6 – 1,9 Å (Dann, 2000).